“写笔记”支持四种格式——Word 文档、Excel 表格、Markdown、纯文本，起稿或二次编辑时都能随时切换，同一篇笔记想用哪种形态来记，都由你说了算。
md、txt、csv、json 这类纯文本则原样载入，不做多余加工。拿一张现成的表倒进来、改几笔、再导出去，等于白用一台免费的格式转换器。
要带走就在右上角点“下载”，可导出 PDF、Word、Markdown、Excel、TXT 等格式；列表卡片“⋯”菜单里，也有同样的下载入口。
在“工具”页点“＋ 上传工具”即可发布：填好名称与链接，再用 Markdown 把使用方法写清楚——能解决什么问题、怎么装、怎么用，比堆介绍实在。
要分发安装包就一并上传压缩包（ZIP、RAR、7Z、TAR.GZ，最大 35MB），别人在详情页一键下载；只放链接不带附件也可以。
工具按大家的收藏热度排序，好用的自然会被顶上来。发布后可在详情页或卡片菜单里编辑、下架。
写笔记时勾上“隐藏”，这篇就只存在于你自己的账号里：不进列表、不进搜索、不上首页精选，也不会出现在任何公开的页面，链接发给别人同样打不开。
适合放密码、草稿、日记这类只给自己看的内容；想公开，去“发布”打开它，把“隐藏”的勾去掉再保存，之后编辑会默认保持原状态，不会悄悄变回公开。
你的内容会同时保存在多个副本上，系统定期做备份与完整性校验，再配合异地容灾机制：就算某台机器出问题，数据也不会丢，可以长期放心存放；特别重要的资料，仍建议你另外再留一份备份。
全站跑在容器化、模块化的现代架构上，更新、部署、回滚都很快，扩展性和稳定性都按长期运营的标准来设计（Built for reliability, designed to scale）。
这个网站最早只是一个人的笔记仓库，后来慢慢长成现在的知识中枢。设计上很克制——没有广告、没有追踪、没有推荐算法，只是干干净净地存放一些东西；既然做好了，就公开出来，万一有人用得上呢。
不做大而全，不做平台梦，保持简单、保持克制、保持好奇。所有内容都由用户贡献、由用户维护：不会突然冒出付费墙，不会在角落塞广告位，也不会把你的数据卖给第三方。
产品会持续迭代，站内日志页记录着每一次改动，改了什么都有迹可循；想了解这个站是怎么一步步走到今天的，翻翻日志就能看到来龙去脉。
如果在这里看到涉嫌违规的内容，点对应卡片右侧的“举报”按钮就能提交，我们会尽快核实处理；也谢谢你花一点时间，一起把这里维护干净。
原子力显微镜：如何用一根针“触摸”原子世界
原子力显微镜通过探针与样品间的极微弱力来成像原子表面，实现纳米级三维形貌测量。
什么是原子力显微镜？
原子力显微镜（Atomic Force Microscope, AFM）是一种扫描探针显微镜，它通过一根极其尖锐的探针（针尖半径仅几纳米）在样品表面进行“触摸式”扫描，利用探针与样品原子之间的范德华力、静电力和磁力等相互作用，来重建样品表面的三维形貌。与光学显微镜受衍射极限限制（约200 nm）不同，AFM的分辨率可以达到原子级别，横向分辨率约0.1 nm，纵向分辨率可达0.01 nm。
核心工作原理
AFM的核心是一个非常灵敏的微悬臂梁（cantilever），其末端固定着探针。当探针靠近样品表面时，原子间的相互作用力会使悬臂梁发生微小弯曲。这种弯曲通过一束激光照射在悬臂梁背面并反射到光电探测器（通常为四象限光电二极管）上来检测。反射光斑位置的微小变化被转换为电信号，从而精确测量悬臂梁的偏转量。
根据扫描模式的不同，AFM主要有三种工作方式：
- 接触模式（Contact Mode）：探针与样品表面直接接触，悬臂梁保持恒定偏转（即恒定力）。这种模式成像速度快，但可能损伤软样品（如生物分子）。
- 非接触模式（Non-Contact Mode）：探针在样品表面上方约5-10 nm处振荡，通过检测振荡频率或振幅的变化来感知样品表面的力梯度。对样品无损伤，但分辨率略低，且对振动敏感。
- 轻敲模式（Tapping Mode）：探针以接近其共振频率振荡，在每次振荡的底部短暂接触样品表面。这是最常用的模式，兼顾了高分辨率和对软样品的保护，适合成像生物样本和聚合物。
关键技术与数据
- 力检测灵敏度：AFM可以检测到皮牛顿（10⁻¹² N）量级的力，约为单个原子间作用力的千分之一。
- 扫描范围：典型商用AFM的扫描范围为几微米到几十微米（X-Y方向），Z方向范围为几微米。
- 环境要求：为了减少振动和热漂移，AFM通常放置在隔振台上，并在恒温、低噪音环境中工作。高真空环境可以进一步提高信噪比。
- 探针材料：常用硅或氮化硅制成，尖端通常通过聚焦离子束（FIB）加工或碳纳米管修饰来获得更尖锐的针尖。
应用领域
AFM已广泛应用于多个学科：
- 材料科学：表征石墨烯、纳米线、薄膜的粗糙度和层状结构。
- 生物学：观察DNA、蛋白质、细胞膜等生物大分子的形貌，甚至测量单个蛋白质分子的力学特性（如折叠力）。
- 半导体工业：检测芯片表面的缺陷和刻蚀深度，分辨率远超扫描电子显微镜（SEM）。
- 物理学：研究量子点、表面电荷分布、摩擦学（纳米摩擦）等。
历史与突破
1986年，IBM苏黎世实验室的格尔德·宾宁（Gerd Binnig）和克里斯托夫·格伯（Christoph Gerber）发明了原子力显微镜，宾宁因扫描隧道显微镜（STM）已获1986年诺贝尔物理学奖。AFM的诞生弥补了STM只能导电样品的局限，使得绝缘体也能在原子尺度被成像。此后，AFM不断进化：高速AFM（视频速率成像）、多频AFM（同时获取形貌和力学性质）、以及结合红外光谱的AFM-IR技术，实现了化学成像。
视频中的演示
原文链接的视频（YouTube，时长约15分钟）通过实际演示展示了AFM的操作过程：从安装探针、激光对准、调整参数到扫描一块CD表面的凹槽结构，清晰呈现了微悬臂梁的偏转如何转化为地形图。视频还展示了用AFM扫描石墨原子晶格的高分辨率图像，直观说明了其原子级成像能力。
总结
原子力显微镜是纳米科技时代最重要的工具之一，它让人类从“看到”原子进化为“触摸”原子。无论是材料科学、生物物理还是半导体制造，AFM都提供了不可替代的纳米级三维形貌信息。理解其原理——微悬臂梁、激光杠杆、反馈系统——是掌握现代纳米测量的基础。